China 4XC-W Microcomputer Metallographic Microscope Factory and Manufacturer

4XC-W Microcomputer Metallographic Microscope Featured Image

4XC-W Microcomputer Metallographic Microskop

Specifikation

4xc-W datormetallografisk mikroskopöversikt

4XC-W-datormetallurgiskt mikroskop är ett trinokulärt inverterat metallurgiskt mikroskop, utrustat med en utmärkt långa brännviddsplan Achromatisk objektivlins och ett stort synfältplan. Produkten är kompakt i struktur, bekväm och bekväm att använda. Det är lämpligt för mikroskopisk observation av metallografisk struktur och ytmorfologi och är ett idealiskt instrument för metallologi, mineralogi och precisionsteknikforskning.

Observationssystem

Gångjärn observationsrör: binokulärt observationsrör, justerbar enstaka syn, 30 ° lutning av linsröret, bekvämt och vackert. Trinokulärt visningsrör, som kan anslutas till en kameraenhet. Önskar: WF10X stor fältplan okular, med ett synfält av φ18mm, vilket ger ett brett och platt observationsutrymme.

Mekanisk stadium

Det mekaniska rörliga stadiet har en inbyggd roterbar cirkulär scenplatta, och den cirkulära stegplattan roteras vid det ögonblick av polariserad ljusobservation för att uppfylla kraven för polariserad ljusmikroskopi.

Belysningssystem

Med hjälp av KOLA -belysningsmetoden kan bländarens membran och fältmembranet justeras med rattar och justeringen är smidig och bekväm. Den valfria polarisatorn kan justera polarisationsvinkeln med 90 ° för att observera mikroskopiska bilder under olika polarisationstillstånd.

Specifikation

Specifikation		Modell
Punkt	Information	4xc-w
Optiskt system	Ändlig avvikelse Korrigeringsoptiskt system	·
observationsrör	Gångjärn kikare rör, 30 ° lutning; Trinokulärt rör, justerbart interpupillär avstånd och diopter.	·
Okular (stort synfält)	WF10X (φ18mm)	·
	WF16X (φ11mm)	O
	WF10X (φ18mm) med Cross Division Ruler	O
Standard objektivlins(Long Throw Plan Achromatic Mål)	PL L 10X/0,25 WD8,90mm	·
	PL L 20X/0,40 WD3,75mm	·
	PL L 40X/0,65 WD2.69mm	·
	SP 100X/0,90 WD0,44mm	·
Valfri objektivlins(Long Throw Plan Achromatic Mål)	PL L50X/0,70 WD2.02mm	O
	PL L 60X/0,75 WD1.34mm	O
	PL L 80x/0,80 WD0,96mm	O
	PL L 100X/0,85 WD0,4mm	O
omvandlare	Boll inre positionering av fyra håls omvandlare	·
omvandlare	Boll inre positionering fem-håls omvandlare	O
Fokuseringsmekanism	Koaxial fokusjustering av grov och fin rörelse, finjusteringsvärde: 0,002 mm; Stroke (från scenens fokus): 30mm. Grov rörelse och spänning justerbar, med låsning och begränsningsanordning	·
Etapp	Double-Layer Mechanical Mobile Type (storlek: 180mmx150mm, Moving Range: 15mmx15mm)	·
Belysningssystem	6V 20W halogenljus, justerbar ljusstyrka	·
Polariserande tillbehör	Analysergrupp, polarisatorgrupp	O
Färgfilter	Gult filter, grönt filter, blått filter	·
Metallografiskt analystystem	JX2016Metallografisk analysprogramvara, 3 miljoner kameraenheter, 0,5x adapterlinsgränssnitt, mikrometer	·
PC	HP Business Computer	O

Obs: "· "Är standardkonfiguration;"O "är valfritt

JX2016 Metallografisk bildanalysprogramvara för programvara

Det "professionella kvantitativa metallografiska bildanalysdatoroperativsystemet" konfigurerat med de metallografiska bildanalysystemprocesserna och realtidsjämförelse, detektion, betyg, analys, statistik och utgångsgrafiska rapporter för de insamlade provkartorna. Programvaran integrerar dagens avancerade bildanalyssteknik, som är den perfekta kombinationen av metallografiskt mikroskop och intelligent analysteknik. Dl/dj/astm, etc.). Systemet har alla kinesiska gränssnitt, som är kortfattade, tydliga och enkla att använda. Efter enkel utbildning eller hänvisat till instruktionshandboken kan du använda den fritt. Och det ger en snabb metod för att lära sig metallografisk sunt förnuft och popularisera operationer.

JX2016 Metallografisk bildanalysprogramvarufunktioner

Bildredigeringsprogramvara: mer än tio funktioner som bildförvärv och bildlagring;

Bildprogramvara: mer än tio funktioner som bildförbättring, bildöverlägg osv.;

Bildmätningsprogramvara: dussintals mätfunktioner som omkrets, område och procentuellt innehåll;

Utgångsläge: Dattabellutgång, histogramutgång, bildutskrift.

Dedikerad metallografisk programvara

Kornstorleksmätning och klassificering (korngränsekstraktion, rekonstruktion av korngränser, enfas, dubbel fas, kornstorleksmätning, betyg);

Mätning och klassificering av icke-metalliska inneslutningar (inklusive sulfider, oxider, silikater, etc.);

Pearlite och ferritinnehållsmätning och betyg; duktil järngrafit nodularitetsmätning och betyg;

Avkopplingsskikt, förgasat skiktmätning, mätning av ytbeläggningstjockleken;

Svetsdjupmätning;

Mätning av fasområden av ferritiska och austenitiska rostfria stål;

Analys av primärt kisel och eutektiskt kisel av hög kiselaluminiumlegering;

Titanlegeringsmaterialanalys ... etc;

Innehåller metallografiska atlaser av nästan 600 vanligt använda metallmaterial för jämförelse, uppfyller kraven för metallografisk analys och inspektion av de flesta enheter;

Med tanke på den kontinuerliga ökningen av nya material och importerade material, kan material och utvärderingsstandarder som inte har matats in i programvaran anpassas och matas in.