Kina 4XC-W mikrodator metallografisk mikroskop fabrik och tillverkare |Chengyu

4XC-W mikrodator metallografiskt mikroskop

Specifikation

4XC-W dator metallografisk mikroskop översikt

4XC-W datormetallurgiskt mikroskop är ett trinokulärt inverterat metallurgiskt mikroskop, utrustat med en utmärkt akromatisk objektivlins med lång brännvidd och ett plan okular med stort synfält.Produkten är kompakt i strukturen, bekväm och bekväm att använda.Den är lämplig för mikroskopisk observation av metallografisk struktur och ytmorfologi, och är ett idealiskt instrument för metallologi, mineralogi och precisionsteknisk forskning.

Observationssystem

Gångjärnsförsett observationsrör: binokulärt observationsrör, justerbar enkelseende, 30° lutning av linsröret, bekvämt och vackert.Trinokulärt betraktningsrör, som kan anslutas till en kameraenhet.Okular: WF10X okular med stor fältplan, med ett synfältsområde på φ18 mm, vilket ger ett brett och plant observationsutrymme.

Mekanisk skede

Det mekaniska rörliga scenen har en inbyggd roterbar cirkulär scenplatta, och den cirkulära scenplattan roteras vid ögonblicket för observation av polariserat ljus för att uppfylla kraven för polariserat ljusmikroskopi.

Ljussystem

Med hjälp av Kola-belysningsmetoden kan bländaren och fältbländaren justeras med rattar, och justeringen är smidig och bekväm.Den valfria polarisatorn kan justera polarisationsvinkeln med 90° för att observera mikroskopiska bilder under olika polarisationstillstånd.

Specifikation

Specifikation		Modell
Artikel	Detaljer	4XC-W
Optiskt system	Optiskt system för korrigering av ändlig aberration	·
observationsrör	Gångjärnsförsett kikare, 30° lutning;trinokulärt rör, justerbart interpupillärt avstånd och dioptri.	·
Okular (stort synfält)	WF10X(Φ18mm)	·
	WF16X(Φ11mm)	O
	WF10X(Φ18mm) Med tvärdelningslinjal	O
Standard objektiv(Akromatiska mål för långa kastplan)	PL L 10X/0,25 WD8,90mm	·
	PL L 20X/0,40 WD3,75 mm	·
	PL L 40X/0,65 WD2,69mm	·
	SP 100X/0,90 WD0,44mm	·
Tillvalsobjektiv(Akromatiska mål för långa kastplan)	PL L50X/0,70 WD2,02mm	O
	PL L 60X/0,75 WD1,34mm	O
	PL L 80X/0,80 WD0,96mm	O
	PL L 100X/0,85 WD0,4mm	O
omvandlare	Bolt inre positionering fyra-håls omvandlare	·
omvandlare	Ball Inre Positioning Fem-håls omvandlare	O
Fokuseringsmekanism	Koaxiell fokusjustering genom grov- och finrörelse, finjusteringsvärde: 0,002 mm;slaglängd (från scenytans fokus): 30 mm.Grov rörelse och spänning justerbar, med lås- och begränsningsanordning	·
Skede	Dubbellagers mekanisk mobil typ (storlek: 180mmX150mm, rörelseområde: 15mmX15mm)	·
Ljussystem	6V 20W Halogenljus, justerbar ljusstyrka	·
Polariserande tillbehör	Analysatorgrupp, polarisatorgrupp	O
Färgfilter	Gult filter, Grönt filter, Blått filter	·
Metallografiskt analyssystem	JX2016Mjukvara för metallografisk analys, 3 miljoner kameraenhet, 0,5X adapterlinsgränssnitt, mikrometer	·
PC	HP företagsdator	O

Notera: "·" är standardkonfiguration; "O" är valfritt

JX2016 metallografisk bildanalys programvara översikt

Den "professionella kvantitativa metallografiska bildanalys datoroperativsystem" konfigureras av metallografiska bildanalyssystem processer och realtidsjämförelse, upptäckt, betyg, analys, statistik och utdata grafiska rapporter av de insamlade provet kartor.Programvaran integrerar dagens avancerade bildanalysteknik, som är den perfekta kombinationen av metallografiskt mikroskop och intelligent analysteknik.DL/DJ/ASTM, etc.).Systemet har alla kinesiska gränssnitt, som är kortfattade, tydliga och lätta att använda.Efter enkel träning eller hänvisning till bruksanvisningen kan du använda den fritt.Och det ger en snabb metod för att lära sig metallografiskt sunt förnuft och popularisera operationer.

JX2016 metallografisk bildanalys programvara funktioner

Programvara för bildredigering: mer än tio funktioner som bildinsamling och bildlagring;

Bildprogramvara: fler än tio funktioner som bildförbättring, bildöverlägg, etc.;

Programvara för bildmätning: dussintals mätfunktioner såsom omkrets, area och procenthalt;

Utgångsläge: datatabellutgång, histogramutgång, bildutskrift.

Dedikerad metallografisk programvara

Kornstorleksmätning och klassificering (korngränsextraktion, korngränsrekonstruktion, enfas, dubbelfas, kornstorleksmätning, klassificering);

Mätning och klassificering av icke-metalliska inneslutningar (inklusive sulfider, oxider, silikater, etc.);

Mätning och värdering av perlit- och ferrithalt;nodularitetsmätning och värdering av segjärngrafit;

Avkolningsskikt, mätning av uppkolat skikt, mätning av ytbeläggningstjocklek;

Mätning av svetsdjup;

Fasareamätning av ferritiska och austenitiska rostfria stål;

Analys av primärkisel och eutektiskt kisel av aluminiumlegering med hög kiselhalt;

Titanlegeringsmaterialanalys...etc;

Innehåller metallografiska atlaser över nästan 600 vanliga metallmaterial för jämförelse, som uppfyller kraven för metallografisk analys och inspektion av de flesta enheter;

Med tanke på den kontinuerliga ökningen av nya material och importerade material kan material och utvärderingsstandarder som inte har matats in i programvaran anpassas och matas in.